778572-10

Jednostka FIU PXI-2510 jest przeznaczona do aplikacji HIL oraz testów niezawodności elektronicznej.  Każdy moduł jest wyposażony w zestaw kanałów przepustowych, które mogą być rozwarte / zwarte do jednej lub więcej magistral usterkowych. Architektura ta może być zastosowana w celu przeprowadzenia symulacji rozwartych lub przerwanych połączeń (a także zwarć pomiędzy pinami), zwarć napięć baterii oraz zwarć uziemienia kanałowego. W przypadku sterowania przez moduł czasu rzeczywistego LabVIEW, PXI-2510 jest idealną opcją do walidacji integralności systemów kontrolnych, w tym jednostek ECU oraz kontroli FADEC.